케이블 Lcr 임피던스 미터 검사기 4Hz-8.5MHz 부품 테스트 장비
범주:
전자 부품 검사기
상술
강조하다:
도입
TH2826A 주파수 4Hz-8.5MHz. 고주파 경제 LCR 미터 벤치 톱 타입 LCR 미터
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고장 분석: 고장 분석 작업에서 LCR 미터는 고장 된 구성 요소를 식별하거나 회로 고장의 원인을 분석하는 데 도움이됩니다.그것은 오픈 회로와 같은 문제를 파악하는 데 도움이 됩니다., 단장, 또는 부품 손상.
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연구 및 개발: LCR 미터는 다양한 산업에서 연구 및 개발 활동에 광범위하게 사용됩니다. 그것은 새로운 재료의 특징을 촉진합니다.부품 프로토타입의 평가기술과 혁신의 발전을 지원하는 임피던스 현상의 조사.
특징
■ 높은 정확성: 자동 평형 브릿지 기술을 사용하여, 4개의 터미널 쌍 테스트 구성
■ 높은 속도: 가장 빠른 시험 속도는 5.6ms입니다.
■ 고 해상도: 7인치, 해상도 800×480
■ 10점 다중 파라미터 리스트 스파이 함수
■ 수학 연산 함수
■ 자동적인 극성 기능
■ 한 키 화면 촬영 기능
■ 한 가지 주요 기록 기능
■ 10단계 정렬 기능, 정렬 결과를 위한 소리 및 빛 경보
■ 넓은 저장 공간:
내장: 설정 파일 40 세트
확장: 설정 파일, 이미지 파일 및 데이터 기록 파일의 500 세트가 USB 메모리를 통해 저장 될 수 있습니다.
■ 높은 호환성: KEYSIGHTE4980A, E4980AL, HP4284A와 호환되는 SCPI 명령을 지원합니다.
적용
■ 수동 부품:
콘덴시터, 인덕터, 자기핵, 저항, 피에조 전기 장치, 트랜스포머, 칩셋
하드웨어 및 네트워크 구성 요소의 장애 매개 변수 평가 및 성능 분석 등
■ 반도체 부품:
LED 드라이브 통합 회로의 기생 파라미터의 시험 및 분석; varactor 다이오드의 C-V DC 특성; 트랜지스터 또는 통합 회로의 기생 파라미터의 분석
■ 다른 부품:
인쇄 회로 보드, 릴레, 스위치, 케이블, 배터리 등의 저항 평가
■ 다이렉트릭 물질:
플라스틱, 세라믹 및 다른 재료의 변전 및 손실 각도 평가
■ 자기 물질:
페리트, 아모르프 및 다른 자기 물질의 투명성 및 손실 각도 평가
■ 반도체 재료:
반도체 재료의 변전, 전도성 및 C-V 특성
■ LCD 단위:
C-V 특성, 예를 들어, 변압기 상수 및 탄력 상수
사양
| 모델 | TH2836 | |
| 표시 | 7인치 TFT LCD 디스플레이 800×RGB×480 | |
| AC 매개 변수 | Cp/Cs, Lp/Ls, Rp/Rs, R, X, G, B, θ, D, Q, Vac, Iac | |
| DC 매개 변수 | Rdc, Vdc, Idc | |
| 테스트 주파수 | 범위 | 4Hz-8.5MHz |
| 결의 | 1mHz | |
| 전기 레벨 테스트 | AC 전압 | 4Hz-1MHz:5mV-2Vrms |
| 1MHz-8.5MHz:5mV-1Vrms | ||
| 결의 | 100μV | |
| AC 전류 | 4Hz-2MHz:50μA-20mArms | |
| 2MHz-8.5MHz:50μA-10mArms | ||
| 결의 | 1μA | |
| DC 전압 | 100mV-2V | |
| 결의 | 100μV | |
| DC 편차 | 전압 | 0V-±10V |
| 결의 | 100μV | |
| 전류 | 0mA-±100mA | |
| 결의 | 1μA | |
| 테스트 터미널 구성 | 4개의 종말 쌍 | |
| 케이블 길이 | 0m, 1m | |
| 출력 저항 | 100Ω | |
| 전형적인 측정 시간 (속도) | 빠른: 5.6ms, 중간: 120ms, 느린: 230ms | |
| 가장 높은 정확도 | 1kHz: 0.05% | |
| 1MHz: 0.05% | ||
| 2MHz: 0.1% | ||
| 5MHz: 0.5% | ||
| 8.5MHz: 1.0% | ||
| 디스플래니 범위 | a: 10^-18 E: 10^18 |
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| C, Cp | ±1.00000aF-999.999EF | |
| Ls, Lp | ±1.000000aH-999.999EH | |
| D | ±0.00001-9.99999 | |
| Q | ±0.01-99999.9 | |
| R, Rs, Rp, X, Z, Rdc | ±1.00000aΩ-999.999EΩ | |
| G, B, Y | ±1.00000aS-99.9999ES | |
| Vdc | ±1.000000aV-999.9999EV | |
| 이치 | ±1.00000aA-999.999EA | |
| θr | ±1.00000rad-3.14159rad | |
| θd | ±0.0001도 - 180.000도 | |
| Δ% | ±0.0001%~999.999% | |
| 다기능 목록 스캔 | 10 점. 매개 변수: 측정 매개 변수, 시험 주파수, AcVoltage, AC 전류, DC Bias 전압 및 DC Bias 전류 | |
| 그래프 스웨어 | 선택 사항 | |
| 인터페이스 | USB 호스트, USB 장치, LAN, 핸들러, RS232C, 선택: GPIB |
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| 가열 시간 | 60분 | |
| 입력 전압 | 선택적으로 100-120VAC/198-242VAC, 47-63Hz | |
| 전력 소비 | 80VA | |
| 차원 (WxHxD) | 400x132x425mm | |
| 무게 | 15kg | |
부속품
| 표준 | ||||||
| 부속품 이름 | 모델 | |||||
| 장착장 | TH26048 | |
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| 단회로 | TH26010 | |
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| 켈빈 테스트 리드, 박스 4단 단열 및 잠금 | TH26011BS | |
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