20Hz-500kHz 벤치탑 LCR 미터 500khz 슈퍼 패스트 자동 범위
범주:
전자 부품 검사기
상술
강조하다:
도입
TH2840A 20Hz-500kHz 시리즈 초고속 LCR 미터 벤치 톱 타입 LCR 미터
특징
■ 시험 주파수: 20Hz-2MHz
■ 높은 안정성 및 일관성: 14개 범위 구성
■ 높은 전력: 신호 수준: 20VAC/100mAAC
내장 DC 편향: ±40VDC/100mADC
내장 전류 소스: ±2A
■ DCR 레벨: 20VDC/100mADC
■ 높은 속도: 듀얼 CPU 아키텍처, 측정 속도 최대 1000 번/초
■ 고 해상도: 10.1 인치, 해상도 1280*800, 용량 터치 스크린
■ 세 가지 시험 방법: 점 검사, 목록 스캔 및 그래프 스캔
■ 4개 매개 변수
■ 201점 다 파라미터 목록 스캔 기능
■ 그래픽 스캔 기능, 4개의 궤도를 임의로 선택할 수 있습니다. 1/2/4 스플릿 스크린을 지원합니다.
■ 분류 기능: LCR 모드에서 10 단계의 분류
■ 높은 호환성: KEYSIGHT E4980A, E4980AL, HP4284A와 호환되는 SCPI/MODBUS 명령어 세트를 지원합니다.
사양
| 모델 | TH2840A | TH2840B | ||
| 표시 | 표시 | 10.1 터치 화면 | ||
| 비율 | 16:09 | |||
| 결의 | 1280 × RGB × 800 | |||
| 매개 변수 | 테스트 모드 | 네 개의 매개 변수 선택 | ||
| AC | Cp/Cs, Lp/Ls, Rp/Rs, R, X, G, B, θ, D, Q, VAC, IAC | |||
| DC | RDC, VDC, IDC | |||
| 빈도 | 범위 | 20Hz-500kHz | 20Hz-2MHz | |
| 정확성 | 00.01% | |||
| 결의 | 0.1mHz (20.0000Hz~99.9999Hz) | |||
| 1mHz (100,000Hz~999.999Hz) | ||||
| 10mHz (1,00000kHz-9.99999kHz) | ||||
| 100mHz (10.0000kHz~99.9999kHz) | ||||
| 1Hz (100,000kHz~999.999kHz) | ||||
| 10Hz (1,00000MHz-2,00000MHz) | ||||
| AC 테스트 신호 모드 |
명목 가치 (ALC OFF) |
테스트 터미널이 열려있을 때 Hcur 전압으로 전압을 설정 | ||
| Hcur에서 흐르는 전류로 전류를 설정 테스트 터미널이 단절된 경우 |
||||
| 일정한 값 (ALC ON) |
설정 값과 같은 DUT에 전압을 유지 | |||
| 설정 값과 같은 DUT에 전류를 유지 | ||||
| 시험 수준 | AC 전압 | 5mVrms-20Vrms | F≤1MHz 5mVrms-20Vrms | |
| F>1MHz 5mVrms-15Vrms | ||||
| 정확성 | ±(10%×설정값+2mV) (AC 2Vrms 이하) | |||
| ±(10% ×값 설정+5mV(웃음)AC>2Vrms) | ||||
| 결의 | 1mVrms(5mVrms-0.2Vrms) | |||
| 1mVrms(00.2Vrms-0.5Vrms) | ||||
| 1mVrms ((0.5Vrms-1Vrms) | ||||
| 10mVrms ((1Vrms-2Vrms) | ||||
| 10mVrms ((2Vrms-5Vrms) | ||||
| 10mVrms ((5Vrms-10Vrms) | ||||
| 10mVrms ((10Vrms-20Vrms) | ||||
| AC 전류 | 50μArms-100mArms | |||
| 결의(100Ω 내부 저항) | 10μArms (50μArms-2mArms) | |||
| 10μArms (2mArms-5mArms) | ||||
| 10μArms (5mArms-10mArms) | ||||
| 100μArms (10mArms-20mArms) | ||||
| 100μArms (20mArms-50mArms) | ||||
| 100μArms (50mArms-100mArms) | ||||
| RDC 테스트 | 전압 | 100mV-20V | ||
| 결의 | 1mV ((0V-1V) | |||
| 10mV ((1V-20V) | ||||
| 전류 | 0mA-100mA | |||
| 결의 | 10μA ((0mA-10mA) | |||
| 100μA ((10mA-100mA) | ||||
| DC 편차 | 전압 | 0V-±40V | ||
| 정확성 | AC=<2V 1% × 설정값+5mV | |||
| AC>2V 2%×설정값+8mV | ||||
| 결의 | 1mV ((0V-1V) | |||
| 10mV ((±1V- ±40V) | ||||
| 전류 | 0mA-±100mA | |||
| 결의 | 10μA ((0mA-10mA) | |||
| 100μA ((10mA-100mA) | ||||
| 내장 전류 근원 |
전류 | 0mA-2A | ||
| 정확성 | I>5mA ±(2% × 설정값+2mA) | |||
| 결의 | 1mA | |||
| 테스트 터미널 구성 | 4개의 터미널 짝 | |||
| 시험 케이블 길이가 | 1m, 2m, 4m | |||
| 출력 임페던스 | 30Ω, ±4%@1kHz | |||
| 100Ω, ±2%@1kHz | ||||
| 계산 |
명목값 Δ에서 절대적인 오차 명목 값의 %의 오차 Δ% |
|||
| 동등한 방법 | 시리즈, 병렬 | |||
| 캘리브레이션 기능 | 오픈, 쇼트, 로딩 | |||
| 측정 평균 | 1-255 | |||
| 범위 선택 | AUTO, HOLD | |||
| 범위 구성 |
LCR | 100mΩ, 1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ | ||
| Rdc | 1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ | |||
| 측정 시간 (ms) | 빨리+: 1ms | |||
| 빨리:30.3ms | ||||
| 중간: 90ms | ||||
| 천천히: 220ms | ||||
| 가장 높은 정확도 | 00.05% (비밀 내용은 사용 설명서를 참조하십시오) | |||
| 측정 표시 범위 | ||||
| C, Cp | 0.00001pF-9.99999F | |||
| Ls, Lp | 0.00001μH-99.9999kH | |||
| D | 0.00001-999999 | |||
| Q | 0.00001-99999.9 | |||
| R, Rs, Rp, X, Z, RDC | 0.001mΩ-99.9999MΩ | |||
| G, B, Y | 0.00001μs-99.9999S | |||
| VDC | ±0V-±999.999V | |||
| IDC | ±0A-±999.999A | |||
| θr | -3.14159-3.14159 | |||
| θd | -179.999°-179.999° | |||
| Δ% | ±(0.000%-999.9%) | |||
| 다기능 매개 변수 목록 스캔 |
점 수 |
201 점, 평균 시간은 각 점에 대해 설정 할 수 있습니다. 그리고 각 포인트는 정렬 할 수 있습니다. 별도로 |
||
| 매개 변수 | 시험 주파수, AC 전압, AC 전류, DC BIAS 전압, DC BIAS 전류 (100mA), DC BIAS 전류 (2A) | |||
| 트리거 모드 | 계열 SEQ: 트리거가 끝나면 모든 스웨이프 포인트에서 측정하고 /EOM/INDEX는 한 번만 출력됩니다. | |||
| 단계 단계: 스웨이 포인트 측정이 시작될 때마다 수행하고 각 포인트 출력 /EOM/INDEX, 하지만 목록 스웨이 비교 결과 마지막 /EOM에서 출력 | ||||
| 다른 특징 | 1스캔 매개 변수와 테스트 매개 변수는 복사 기능을 여러 가지 | |||
| 2. 지연은 각 스캔 포인트에 설정할 수 있습니다 | ||||
| 비교자 | 각 스파이 포인트 최대 4개의 테스트 매개 변수를 측정할 수 있습니다. 각 매개 변수는 상부와 하부 한도를 설정할 수 있습니다. 모든 테스트 매개 변수는 자격을 갖추고 있습니다.상단 및 하단 제한이 설정되지 않습니다., 판단하지 않습니다 | |||
| 그래픽 스캔 | 스캔 포인트 | 51, 101, 201, 401, 801 선택 사항 | ||
| 그 결과 | 각 매개 변수의 극한 값과 커서 위치의 스웨이프 매개 변수 값과 해당 테스트 매개 변수 값 | |||
| 스캔 궤도 | 1-4 테스트 매개 변수를 임의로 선택할 수 있으며 스캔 곡선은 하나의 화면, 두 개의 화면 또는 네 개의 화면으로 나눌 수 있습니다. | |||
| 디스플레이 범위 | 실시간 자동, 잠금 | |||
| 좌표 | 로가리듬, 선형 | |||
| 스캔 매개 변수 | 주파수, AC 전압, AC 전류, DCV BIAS / DCI BIAS (100mA) / DCI BIAS (2A) | |||
|
트리거 모드 |
싱글 | 한 번 수동으로 트리거하고 시작점부터 끝점까지 스캔을 완료 다음 트리거 신호는 새로운 스캔을 시작합니다 | ||
| 연속 | 시작부터 끝까지 무한 루프 스캔 | |||
| 결과 저장 | 그래픽, 파일 | |||
| 비교자 | 통기 | 10Bin, PASS, FAIL | ||
| 칸 오차 설정 | 오차 값, % 오차 값, 꺼 | |||
| 비인 모드 | 용도, 연속 | |||
| 비인 수 | 0-99999 | |||
| 차별 |
최대 네 개의 매개 변수 제한 범위가 각 파일에 설정될 수 있습니다. 4개의 테스트 파라미터 결과의 설정 범위 내에서 표시됩니다. 상단과 하단 한계가 없으면 자동으로 무시됩니다. |
|||
| 합격/실패 표시 | Bin-1-10을 만나, 전면 패널의 PASS 빛이 켜져 있습니다, 그렇지 않으면 실패 빛이 켜져 있습니다 | |||
| 데이터 캐시 | 201 측정 결과는 대량으로 읽을 수 있습니다. | |||
| 매장 호출 | 안쪽 | 약 100M 비휘발성 메모리 테스트 설정 파일 | ||
| 외부 USB | 테스트 설정 파일, 스크린샷 그래프, 기록 파일 | |||
| 키보드 잠금 | 전면 패널 키는 잠금 할 수 있습니다, 다른 기능을 확장 할 수 있습니다 | |||
| 인터페이스 | USB HOST | 2 USB HOST 포트, 마우스와 키보드를 동시에 연결할 수 있습니다, 한 U 디스크만 동시에 사용할 수 있습니다 | ||
| USB 장치 | 유니버설 시리즈 버스 소켓, 작은 B형 (4개의 접촉 위치); USB TMCUSB488 및 USB2와 호환된다.0, 여성 커넥터는 외부 컨트롤러를 연결하는 데 사용됩니다. | |||
| LAN | 10/100M 이더넷 적응 | |||
| 관리자 | Bin 신호 출력용 | |||
| 외부 DC BIAS 제어장치 | 지원 TH1778A | |||
| RS232C | 표준 9핀, 크로스 | |||
| RS485 | RS232에서 RS485 모듈의 수정 또는 외부를 받아 들일 수 있습니다. | |||
| 전원을 켜고 온화 시간 | 60분 | |||
| 입력 전압 | 100-120VAC/198-242VAC 옵션, 47-63Hz | |||
| 전력 소비 | 이보다 더130VA | |||
| 크기 (WxHxD) mm3 | 430x177x265 | |||
| 무게 (kg) | 11kg | |||
부속품
| 표준 | ||||||
| 부속품 이름 | 모델 | |||||
| 장착장 | TH26048 | |
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| 단회로 | TH26010 | |
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| 켈빈 테스트 리드, 박스 4단 단열 및 잠금 | TH26011BS | |
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| 선택 사항 | ||||||
| 부속품 이름 | 모델 | |||||
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