LCR 및 임페던스 미터
,임피던스 벤치 톱 LCR 미터
,벤치탑 LCR 미터 스크린샷
컴포넌트 파라미터 테스터 TH2836 뱅치 톱 타입 LCR 미터, 수학 조작, 스크린샷 및 기록 기능
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휴대용 및 벤치 톱 모델: LCR 미터는 휴대용 및 벤치 톱 모델 모두에서 사용할 수 있으며, 다양한 사용 시나리오를 충족합니다. 휴대용 모델은 현장 측정에 편리합니다.벤치 톱 모델은 실험실 응용 프로그램에 대한 향상된 안정성과 추가 기능을 제공합니다..
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컴포넌트 정렬: 일부 LCR 미터는 컴포넌트 정렬 기능을 제공하여 사용자가 측정된 매개 변수에 따라 컴포넌트를 신속하게 정렬하고 분류 할 수 있습니다.이 기능은 특히 생산 또는 품질 관리 환경에서 유용합니다..
특징
높은 정확성: 자동 평형 브릿지 기술을 사용하여, 4개의 단말 쌍 테스트 구성
높은 속도: 가장 빠른 테스트 속도는 5.6ms입니다.
고해상도: 7인치, 800×480 해상도
10-포인트 멀티 파라미터 리스트 스위프 함수
수학적 연산 함수
바라 렉터 다이오드의 자동 극 함수
한 키 화면 촬영 기능
하나의 키 기록 기능
10단계 분류 기능, 분류 결과를 위한 소리 및 빛 경보
큰 저장 공간:
내장: 설정 파일 40 세트
확장: 설정 파일, 이미지 파일 및 데이터 기록 파일의 500 세트가 USB 메모리를 통해 저장 될 수 있습니다.
높은 호환성: KEYSIGHTE4980A, E4980AL, HP4284A와 호환되는 SCPI 명령을 지원합니다.
적용
수동 부품:
콘덴시터, 인덕터, 자기핵, 저항, 피에조 전기 장치, 트랜스포머, 칩셋
하드웨어 및 네트워크 구성 요소의 장애 매개 변수 평가 및 성능 분석 등
반도체 부품:
LED 드라이브 통합 회로의 기생 파라미터의 시험 및 분석; varactor 다이오드의 C-V DC 특성; 트랜지스터 또는 통합 회로의 기생 파라미터의 분석
다른 부품:
인쇄 회로 보드, 릴레, 스위치, 케이블, 배터리 등의 저항 평가
다이렉트릭 물질:
플라스틱, 세라믹 및 다른 재료의 변전 및 손실 각도 평가
자석 물질:
페리트, 아모르프 및 다른 자기 물질의 투명성 및 손실 각도 평가
반도체 재료:
반도체 재료의 변전, 전도성 및 C-V 특성
LCD 단위:
C-V 특성, 예를 들어, 변압기 상수 및 탄력 상수
사양
모델 | TH2836 | |
표시 | 7인치 TFT LCD 디스플레이 800×RGB×480 | |
AC 매개 변수 | Cp/Cs, Lp/Ls, Rp/Rs, Z Z Z Z, Y Z, R, X, G, B , D, Q, Vac, Iac | |
DC 매개 변수 | Rdc, Vdc, Idc | |
테스트 주파수 | 범위 | 4Hz-8.5MHz |
결의 | 1mHz | |
전기 레벨 테스트 | AC 전압 | 4Hz-1MHz:5mV-2Vrms |
1MHz-8.5MHz:5mV-1Vrms | ||
결의 | 100V | |
AC 전류 | 4Hz-2MHz:50A-20mArms | |
2MHz-8.5MHz:50A-10mArms | ||
결의 | 1A | |
DC 전압 | 100mV-2V | |
결의 | 100V | |
DC 편차 | 전압 | 0V-±10V |
결의 | 100V | |
전류 | 0mA-±100mA | |
결의 | 1A | |
테스트 터미널 구성 | 4개의 종말 쌍 | |
케이블 길이 | 0m, 1m | |
출력 저항 | 100 | |
전형적인 측정 시간 (속도) | 빠른: 5.6ms, 중간: 120ms, 느린: 230ms | |
가장 높은 정확도 | 1kHz: 0.05% | |
1MHz: 0.05% | ||
2MHz: 0.1% | ||
5MHz: 0.5% | ||
8.5MHz: 1.0% | ||
디스플래니 범위 | a: 10^-18 E: 10^18 |
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C, Cp | 1.00000aF-999.999EF | |
Ls, Lp | 1.000000aH-999.999EH | |
D | 0.00001-999999 | |
Q |